Garantiza el máximo rendimiento con soluciones avanzadas de pruebas KGD
En el impulso implacable hacia semiconductores más pequeños, rápidos y potentes, la optimización de procesos es un imperativo estratégico.
La prueba KGD es un elemento crítico para lograr la excelencia en la fabricación. Al examinar meticulosamente la funcionalidad de cada chip antes de la inversión en encapsulado, la prueba KGD ofrece una poderosa palanca para maximizar el rendimiento, minimizar el desperdicio y controlar los costos. Es un enfoque proactivo que elimina el impacto posterior del chip defectuoso (del inglés faulty die), asegurando que solo los componentes viables avancen en la línea de producción, allanando el camino hacia una mayor fiabilidad del producto y una ventaja competitiva.
ipTEST, forma parte de Microtest Group y lidera el campo en técnicas avanzadas de pruebas de conocimiento del buen chip (del inglés Known Good Die (KGD) testing) para la fabricación de dispositivos de potencia. Con décadas de experiencia y tecnología de vanguardia, ipTEST ofrece sistemas de prueba precisos y confiables que respaldan una amplia gama de tecnologías, incluidos SiC, GaN, MOSFETs e IGBTs, permitiendo a los fabricantes alcanzar nuevos estándares de calidad y rendimiento.
Explora métodos avanzados para las pruebas KGD
Combinando tecnología de vanguardia con una precisión inigualable, nuestras soluciones permiten a los fabricantes evaluar una amplia variedad de tipos de dispositivos, que van desde los IGBTs y MOSFETs convencionales hasta los avanzados SiC y GaN, logrando los más altos estándares de eficiencia y rendimiento.
En aplicaciones de alta exigencia, como los módulos multichip (del inglés multi-chip modules) del sector automotriz, donde pueden integrarse más de 36 chips individuales en un solo módulo, garantizar altas tasas de rendimiento es fundamental. Para mantener la viabilidad económica, un rendimiento de módulo de al menos el 85% requiere un rendimiento medio del chip del 99,55%, asumiendo un proceso de ensamblaje sin defectos.
Lograr niveles de calidad tan estrictos exige mucho más que un simple cribado paramétrico a nivel de oblea. Los defectos sutiles que pueden no aparecer durante las pruebas estándar podrían comprometer el producto final, por lo que se requieren metodologías de prueba avanzadas que vayan más allá de la evaluación a nivel de oblea e incluyan el cribado individual de los chips después del corte.
ipTEST ofrece innovaciones líderes en la industria para las pruebas KGD, brindando un análisis preciso y exhaustivo para identificar y eliminar defectos en las etapas más tempranas posibles. Estos sistemas están diseñados para maximizar el rendimiento y minimizar el desperdicio, apoyando la creciente demanda de chips de alta calidad en aplicaciones como automoción, industrial y sectores energéticos.
ipTEST MOSTRAK 2: Redefiniendo las pruebas KGD
MOSTRAK 2 representa una nueva generación de equipamiento de pruebas KGD (del inglés KGD testers), que combina tecnología de vanguardia con un enfoque en la flexibilidad y la precisión. Diseñado para satisfacer las exigencias de la producción moderna de semiconductores, este avanzado producto ofrece un rendimiento y una adaptabilidad incomparables para diversos entornos de producción.
Las características clave de la gama de productos MOSTRAK 2 incluyen:
MOSTRAK 2 mejora el rendimiento al realizar pruebas a varios chips simultáneamente, lo que reduce significativamente el tiempo total de prueba, manteniendo la precisión e incrementando la eficiencia de la producción.
El método captura y evalúa las formas de onda de conmutación a alta velocidad, identificando anomalías sutiles que las pruebas estándar podrían pasar por alto. Los algoritmos de medición de precisión garantizan resultados precisos y repetibles, registrando defectos que podrían afectar el rendimiento en condiciones reales, al tiempo que minimizan los rechazos falsos y aumentan el rendimiento.
Incorporando las técnicas más recientes para simular las condiciones operativas del mundo real, MOSTRAK 2 evalúa el rendimiento y la tolerancia al estrés de cada chip en un rango de temperaturas (sujeto a las capacidades del probador de obleas (del inglés wafer prober)), verificando su capacidad para cumplir con los estándares de confiabilidad y durabilidad de la industria.
Las interfaces flexibles de hardware y software permiten la compatibilidad con una amplia gama de probadores de obleas, manipuladores y flujos de trabajo de producción, garantizando una fácil adopción en las líneas de fabricación existentes.
MOSTRAK 2 es adaptable a una amplia gama de necesidades de producción, desde operaciones a pequeña escala hasta la fabricación a gran volumen, proporcionando una solución ideal para fabricantes en cualquier etapa de crecimiento.
Incorpora hardware y software especializados diseñados para pruebas estáticas, dinámicas, térmicas y de estrés.
Protege el equipo de pruebas y el contactor de posibles daños causados por fallos en el dispositivo, reduciendo el tiempo de inactividad y garantizando un rendimiento de prueba confiable.
Pruebas exhaustivas garantizan la fiabilidad a largo plazo, reduciendo el riesgo de fallos en campo y costosos reclamos de garantía. Además, las capacidades de pruebas de alto rendimiento permiten un tiempo de comercialización más rápido, brindando a los fabricantes una ventaja competitiva en la industria de semiconductores en constante evolución.
A medida que las tecnologías de semiconductores continúan evolucionando, los sistemas ipTEST siguen siendo adaptables, respaldando las nuevas topologías de dispositivos y las crecientes necesidades de producción.
tecnología para la seguridad en La prueba KGD
Cuando los dispositivos KGD fallan, una cantidad significativa de corriente fluye a través del chip (y del equipo de pruebas + contactor), por lo que es necesario contar con un mecanismo de seguridad. Por eso, hemos integrado mecanismos de protección contra sobrecorriente (del inglés Overcurrent Protection (OCP)) de última generación en nuestras estaciones de prueba dinámica de conmutación.
SocketSafe™ actúa como una red de seguridad, detectando, limitando y desviando rápidamente los picos de energía cuando se producen fallos durante La prueba KGD. Al limitar la transferencia de energía a un máximo seguro, esta innovadora circuitería no solo protege los valiosos equipos de testeo, sino que también garantiza que los dispositivos defectuosos disipen la energía de forma segura y eficiente.
Este enfoque proactivo minimiza la necesidad de reparaciones en el contactor, reduce costosos tiempos de inactividad y prolonga la vida útil de los sistemas de testeo.
Con SocketSafe™, los fabricantes logran un tiempo de actividad (del inglés “uptime”) y una tarifa por hora (del inglés “Unit Per Hour (UPH) rates”) óptimas. Las soluciones de ingeniería de precisión de ipTEST garantizan una seguridad y fiabilidad incomparables, respaldando tu camino hacia la excelencia en la producción. Protege tu inversión, mantén el máximo rendimiento y mantente a la vanguardia en un mercado competitivo con las avanzadas tecnologías OCP de Microtest Group.
El papel fundamental de La prueba KGD en la fabricación de semiconductores
La prueba KGD desempeña un papel fundamental en garantizar la fiabilidad y el rendimiento de cada chip, especialmente en la producción de dispositivos de alto rendimiento como el carburo de silicio (SiC). Al identificar los chips defectuosos en las primeras etapas del proceso de fabricación, la prueba KGD minimiza el riesgo de fallos costosos en etapas posteriores y mejora la calidad general del producto.
La prueba KGD actúa como un punto de control de calidad fundamental, garantizando que solo los chips funcionales y fiables avancen a las etapas finales de la producción.
La detección temprana de defectos mediante la prueba KGD reduce el desperdicio, disminuye los costos de fabricación y acelera el tiempo de comercialización. Permite a los fabricantes concentrar los recursos en la construcción de productos con fiabilidad comprobada, fortaleciendo la confianza del cliente y ofreciendo una ventaja competitiva.
Con configuraciones avanzadas diseñadas para abordar los desafíos únicos de los dispositivos de potencia de próxima generación, brindamos a los fabricantes las herramientas necesarias para lograr una calidad superior y una eficiencia operativa óptima. Al invertir en soluciones sólidas en las pruebas KGD, las empresas pueden satisfacer con confianza las demandas del mundo actual impulsado por la tecnología.
Pruebas exhaustivas para diferentes tipos de dispositivos
La industria de semiconductores desarrolla una amplia variedad de dispositivos de potencia, cada uno con especificaciones y desafíos únicos. Las pruebas integrales (del inglés comprehensive testing) son cruciales para verificar que cada chip cumpla con los estándares de rendimiento antes de incorporarse en encapsulados o modelos más grandes.
Las plataformas de pruebas avanzadas (del inglés Advanced testing platforms) permiten una cobertura exhaustiva de distintos tipos de dispositivos, brindando a los fabricantes la flexibilidad de evaluar múltiples tecnologías mediante un único sistema unificado.
Las capacidades de pruebas repetibles son esenciales para los fabricantes que buscan alcanzar una calidad estandarizada en grandes lotes de producción. Los resultados consistentes desempeñan un papel crucial en el mantenimiento de la confianza del cliente y en el cumplimiento de los estrictos requisitos de fiabilidad y repetibilidad de los indicadores (del inglés gauge).
La alta precisión y la robusta fiabilidad forman la base para maximizar el rendimiento y asegurar el éxito en la competitiva industria de los semiconductores.
La identificación de defectos al inicio del proceso de producción desempeña un papel fundamental para garantizar altos rendimientos y reducir los costos. Las pruebas avanzadas a nivel de KGD detectan incluso problemas sutiles antes de que los componentes pasen a las siguientes etapas. Este método evita que los chips defectuosos avancen, preservando recursos valiosos y mejorando la eficiencia general de la producción. Al abordar las fallas desde el principio, los fabricantes pueden mantener mayores rendimientos y reducir el desperdicio de material.
La fiabilidad y el rendimiento son fundamentales para industrias como la automotriz, aeroespacial y la automatización industrial. Cada chip se somete a una evaluación rigurosa para confirmar su cumplimiento con los más altos estándares de calidad, lo que reduce significativamente la posibilidad de fallos en el campo. Eliminar los componentes defectuosos durante las pruebas iniciales mejora la fiabilidad del producto, refuerza la confianza del cliente y minimiza los gastos relacionados con devoluciones y reclamaciones de garantía, lo que, en última instancia, fortalece la reputación de la marca.
Los defectos pasados por alto durante el proceso de fabricación incrementan los costos, especialmente durante el encapsulado y el ensamblaje. Las pruebas KGD permiten a los fabricantes filtrar los chips defectuosos desde el principio, evitando gastos innecesarios y reduciendo el desperdicio de material. Este enfoque asegura un uso más eficiente de los recursos y elimina la necesidad de costosas reelaboraciones o repruebas, agilizando la producción y reduciendo los costos operativos en general.
Los ciclos de producción rápidos son cruciales en el competitivo panorama de los semiconductores. Los modelos de pruebas de alto rendimiento evalúan varios chips simultáneamente, eliminando cuellos de botella y permitiendo una entrega más rápida de los productos. Con escalabilidad diseñada para adaptarse a futuras tecnologías como SiC y GaN, estos métodos aseguran que los fabricantes sigan siendo ágiles y competitivos. Las pruebas más rápidas y la integración fluida en las líneas de producción respaldan un tiempo de comercialización acelerado sin comprometer la calidad.
¿Por qué elegir a Microtest Group para las necesidades de las pruebas KGD?
Seleccionar a un socio experimentado y capacitado para las pruebas KGD es esencial para mantener la eficiencia y la fiabilidad de los procesos de fabricación de semiconductores.
Tecnología avanzada para pruebas de alto rendimiento
El equipo ipTEST de Microtest Group está diseñado con tecnología de vanguardia para abordar las complejidades de la fabricación moderna de semiconductores. Con instrumentación avanzada y algoritmos robustos, estos enfoques innovadores proporcionan capacidades de diagnóstico exhaustivas para una amplia variedad de dispositivos, incluidos los componentes MOSFETs, IGBTs, SiC y GaN.
Microtest opera a nivel global dentro del ecosistema semiconductor con dos áreas de especialización: ATE (Automatic Test Equipment) y ASIC (Application-Specific Integrated Circuit).
- Ahorro de espacio
- Reducción del costo total de propiedad
- Ahorro de consumo energético
- Reducción del tiempo de comercialización
Microtest Group opera en el ecosistema semiconductor, ofreciendo soluciones y servicios de primer nivel en ATE y ASIC para los mercados automotriz, industrial, de potencia, sensores y salud.
experiencia
a nivel mundial
